高光譜成像技術(shù)的原理你了解嗎?
發(fā)布時(shí)間:2023-07-07
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高光譜成像技術(shù)結(jié)合了傳統(tǒng)計(jì)算機(jī)視覺(jué)與光譜分析技術(shù)的特點(diǎn),將傳統(tǒng)二維成像技術(shù)和光譜技術(shù)有機(jī)結(jié)合,可以同時(shí)獲取樣品的詳細(xì)光譜信息和圖像信息。被廣泛的應(yīng)用于工業(yè)分選、精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)、色差檢測(cè)、食品檢測(cè)、醫(yī)學(xué)制藥、文物保護(hù)、刑偵檢測(cè)、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。本文對(duì)高光譜成像技術(shù)的原理做了介紹。
高光譜成像技術(shù)結(jié)合了傳統(tǒng)計(jì)算機(jī)視覺(jué)與光譜分析技術(shù)的特點(diǎn),將傳統(tǒng)二維成像技術(shù)和光譜技術(shù)有機(jī)結(jié)合,可以同時(shí)獲取樣品的詳細(xì)光譜信息和圖像信息。被廣泛的應(yīng)用于工業(yè)分選、精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)、色差檢測(cè)、食品檢測(cè)、醫(yī)學(xué)制藥、文物保護(hù)、刑偵檢測(cè)、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。本文對(duì)高光譜成像技術(shù)的原理做了介紹。
高光譜成像技術(shù)介紹:
高光譜成像技術(shù)最突出的應(yīng)用是遙感探測(cè)領(lǐng)域,并在越來(lái)越多的民用領(lǐng)域有著更大的應(yīng)用前景。它集中了光學(xué)、光電子學(xué)、電子學(xué)、信息處理、計(jì)算機(jī)科學(xué)等領(lǐng)域的先進(jìn)技術(shù),是傳統(tǒng)的二維成像技術(shù)和光譜技術(shù)有機(jī)的結(jié)合在一起的一門(mén)新興技術(shù)。
高光譜成像技術(shù)的定義是在多光譜成像的基礎(chǔ)上,在紫外到近紅外(200-2500nm)的光譜范圍內(nèi),利用成像光譜儀在光譜覆蓋范圍內(nèi)的數(shù)十或數(shù)百條光譜波段對(duì)目標(biāo)物體連續(xù)成像。按照光譜順序在不同的光譜波長(zhǎng)點(diǎn)都有一張二維空間圖像,即整個(gè)高光譜圖像其實(shí)是一個(gè)數(shù)據(jù)“立方體”。在獲得物體空間特征成像的同時(shí),也獲得了被測(cè)物體的光譜信息。某些物體在光譜中留下獨(dú)特的“指紋”。這些“指紋”被稱(chēng)為光譜特征,可用于識(shí)別被掃描物體的物質(zhì)組成。
高光譜成像技術(shù)的原理:
高光譜成像是一系列波長(zhǎng)范圍內(nèi)的圖像,根據(jù)不同的光源,光譜范圍可分為200~400nm(紫外)、400~760 nm(可見(jiàn)光)、760~2560 nm(近紅外)以及波長(zhǎng)大于2560nm的區(qū)域。高光譜成像系統(tǒng)的主要組成部分有:CCD相機(jī)、單色儀、成像鏡頭、光源、載物臺(tái)和計(jì)算機(jī),如下圖所示。
在掃描過(guò)程中,攝像頭接受從物體表面反射或透射來(lái)的光,通過(guò)CCD探測(cè)器把光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào),圖像采集卡把CCD得到的模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),通過(guò)計(jì)算機(jī)顯示出來(lái),單色儀用來(lái)獲得特定波長(zhǎng)的光,單色儀分為濾波片(濾波器)和圖像光譜儀兩種,根據(jù)單色儀的不同可把高光譜系統(tǒng)分為兩種不同的高光譜系統(tǒng),第1種是基于濾波片(濾波器)的高光譜成像系統(tǒng),其通過(guò)連續(xù)采集一系列波段條件下樣品的二維圖像,即在每個(gè)特定波長(zhǎng)λi(i=1,2,3,…,n;n為正整數(shù))得到一幅二維圖像(橫坐標(biāo)為x,縱坐標(biāo)為y),從而得到三維高光譜圖像塊,如下圖所示。
第2種是基于成像光譜儀的高光譜成像系統(tǒng),其采用“掃帚式”成像方法得到高光譜圖像;線列或面陣探測(cè)器在光學(xué)焦面的垂直方向做橫向排列完成橫向掃描(x軸向),獲取對(duì)象條狀空間中每個(gè)像素在各個(gè)波長(zhǎng)λi(i= 1,2,3,…,n;n為正整數(shù))下的圖像信息;同時(shí)在檢測(cè)系統(tǒng)輸送帶前進(jìn)過(guò)程中,排列的探測(cè)器如同刷子掃地一樣掃出一條帶狀軌跡從而完成縱向掃描(y軸向),綜合橫縱掃描信息就可得到樣品的三維高光譜圖像數(shù)據(jù),如下圖所示。
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