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線列探測(cè)器加光機(jī)掃描型光譜儀原理及特點(diǎn)

發(fā)布時(shí)間:2024-07-05
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高光譜成像光譜儀也稱高光譜成像儀,其根據(jù)成像系統(tǒng)和分光技術(shù)的不同,可以分為面陣列探測(cè)器加空間推掃型、線列探測(cè)器加光機(jī)掃描型、光譜空間交叉掃描型和光譜掃描型等四種類型。本文對(duì)線列探測(cè)器加光機(jī)掃描型光譜儀做了介紹。

高光譜成像光譜儀也稱高光譜成像儀,其根據(jù)成像系統(tǒng)和分光技術(shù)的不同,可以分為面陣列探測(cè)器加空間推掃型、線列探測(cè)器加光機(jī)掃描型、光譜空間交叉掃描型和光譜掃描型等四種類型。本文對(duì)線列探測(cè)器加光機(jī)掃描型光譜儀做了介紹。

高光譜成像儀

線列探測(cè)器加光機(jī)掃描型光譜儀原理:

面陣推掃式成像光譜儀的前置光學(xué)系統(tǒng),在紅外波段,對(duì)大視場、高像質(zhì)光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方面非常困難,因此,面陣推掃式成像光譜儀的總視場不可能很大,而線陣探測(cè)器加光機(jī)掃描型成像光譜儀則很好地解決了這方面的問題。這類光譜儀由光機(jī)掃描和飛行平臺(tái)向前運(yùn)動(dòng)完成二維空間掃描,其光譜維的掃描由線列陣探測(cè)器完成,色散器件一般是由光柵和棱鏡組成,其工作原理如下圖所示。

撣掃式成像光譜儀原理圖


線列探測(cè)器加光機(jī)掃描型光譜儀特點(diǎn):

這類成像光譜儀的特點(diǎn)是:空間掃描在物方完成,可以得到大的總視場角(90°),像元配準(zhǔn)好,不同波段任何時(shí)候都凝視同一像元;光譜波段覆蓋范圍較全,可以從可見光一直到熱紅外;10~120nm的光譜分辨率的情況下,其輻射靈敏度也基本能滿足要求。目前波段全、實(shí)用性強(qiáng)的成像光譜儀多屬此類。

其不足之處是:由于光機(jī)掃描,每個(gè)像元的凝視時(shí)間相對(duì)較短,要進(jìn)一步同時(shí)提高光譜分辨率和輻射靈敏度就比較困難。

本文標(biāo)簽: 光譜儀分類光譜儀原理

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